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多点温度测试

程序员文章站 2024-02-02 23:05:52
...

DS18B20温度传感器
一、简介:
多点温度测试
图示有字的一面,注意GND和VCC不要接反。工作电压3.0v~5.5V,采集温度-55度到正125度,可编程温度9-12位,精度分别是0.5度,0.25度,0.125度0.0625度,默认都是12位,12位转换时间是750ms,9位是93.75ms,电压负压特性(不会因电源接反发热烧坏)。
二、电路连接:
多点温度测试
接一个上拉电阻。
三、通信方式:
单总线通信:
单总线是一种具有一个总线主机和一个或若干个从机的系统。严格按照器件的时间要求进行复位,写命令,读写数据等。整个过程在一条线上进行。
四、DS18B20的内部结构:
多点温度测试
64位光刻ROM,温度传感器,非易失性的温度报警触发器TH和TL,配置寄存器。出厂前ROM的排列是:开始8位产品类型标号(28H),接着48位是DS18B20全球唯一***,最后8位是前面56位的循环冗余校验码。
DS18B20存储器:
多点温度测试
Byte0和Byte1分别存储温度寄存器的低字节和高字节,这两个字节是只读的。我们一般只操作这两个字节。
多点温度测试
五、DS18B20的指令:
命令有两种,一种ROM的指令,一种暂存器的指令。
多点温度测试
六、操作时序:
分为4个步骤:
1.复位:单片机发一个低电平给DS18B20,DS18B20返回一个低电平给单片机,完成唤醒握手。
2.发送ROM命令
3.发送暂存器指令
4.发送数据或接受数据

单个温度测试代码:

#include<All.h>
uchar xdata DS18B20_Buffer[2]=0;//保存温度的数据
void Delay500us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	i = 16;
	j = 147;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay80us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	_nop_();
	_nop_();
	i = 3;
	j = 123;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay60us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	_nop_();
	i = 2;
	j = 220;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay10us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i;
	i = 78;
	while (--i);
}
void Delay2us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i;
	i = 14;
	while (--i);
}
/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Reset
 * @描   述:复位
 * @说   明:
 * @参   数:无
 * @返回值:无 
 *********************************/
void DS18B20_Reset()
{
    DS18B20_DQ=0;//总线拉低
	Delay500us();//保持500us
	DS18B20_DQ=1;//短暂拉高
	Delay80us();//80us

	//等待拉低
	Delay500us();//返回一个106us的低电平
	DS18B20_DQ=1;
	_nop_();//短暂拉高
	_nop_();
}
/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Write_Com
 * @描   述:写寄存器指令
 * @说   明:
 * @参   数:dat 要写入的数据
 * @返回值:无 
 *********************************/
void DS18B20_Write_Com(uchar com)
{
	uchar idata i;
	for(i=0;i<8;i++)
	{
      DS18B20_DQ=0;
	   Delay10us();//先拉低15us
		_nop_();
		DS18B20_DQ=(bit)(com&0x01);//先发低位
		com>>=1;//移位
		Delay60us();//继续拉低15us
		DS18B20_DQ=1;//短暂拉高
		Delay2us();
	}
}
/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Read_Data
 * @描   述:读数据
 * @说   明:
 * @参   数:无
 * @返回值:dat  读出的数据 
 *********************************/
uchar DS18B20_Read_Data()
{
	uchar idata i,value;
	for(i=0;i<8;i++)
	{
	 DS18B20_DQ=0;
		Delay10us();
		value>>=1;
	 DS18B20_DQ=1;
		//Ds18B20会返回值。,无论是0还是1,都延迟15us
	 Delay2us();
	//	Delay15us();//先拉低15us
		if(DS18B20_DQ)//是1
			value|=0x80;//最低位
		Delay60us();
	}
return value;
}
/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Handle
 * @描   述:温度处理
 * @说   明:1. 复位 2.发送ROM命令 3.发送暂存器指令 读RAM 4.数据
 * @参   数:无
 * @返回值:无
 *********************************/
void DS18B20_Handle()
{
	uchar xdata value_High,value_Low;
	float num;//保存小数
    DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH,跳过ROM操作
	//DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
	DS18B20_Write_Com(0x44);//发送指令44H,启动温度转换
	Delay10us();
	DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH,跳过ROM操作
	DS18B20_Write_Com(0xbe);//发送指令BEH,读取9字节RAM数据的前两个数据
	Delay10us();
	value_Low=DS18B20_Read_Data();//先读低字节Byte0
	value_High=DS18B20_Read_Data();//高字节Byte1
	
	value_High<<=4;//整数的高3位
	value_High+=(value_Low&0xf0)>>4;//整数的低4位
	DS18B20_Buffer[0]=value_High;//整数
	num=(value_Low&0x0f)*0.0625;//小数
	DS18B20_Buffer[1]=(uchar)(num*100);//小数
}

多点测试:(两个)
步骤:
1.先读出每个传感器的唯一ROM序列;

/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Read_64Rom
 * @描   述:读64位的ROM 唯一标识
 * @说   明:
 * @参   数:*buffer 读出的8个字节的数据
 * @返回值:无
 *********************************/
void DS18B20_Read_64Rom(uchar *buffer)
{
  	uchar i;
    DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
	for(i=0;i<8;i++) //读取64个字节
	 buffer[i]=DS18B20_Read_Data();
}

多点温度测试
2.用两个数组存读出来的***:
多点温度测试
3.写入ROm***,并启动转换温度:

/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Write_Rom
 * @描   述:写64ROM
 * @说   明:发送匹配ROM命令 0x55再写入8字节的ROM
 * @参   数:*buffer 要发送的存放ROM的数组
 * @返回值:无
 *********************************/
void DS18B20_Write_Rom(uchar *buffer)
{
	uchar i;
   DS18B20_Write_Com(0x55); //ROM匹配 
	for(i = 0;i < 8;i++)
	DS18B20_Write_Com(buffer[i]); //写入8个字节的ROM
}
/*********************************
 * @函数名:DS18B20_Handle
 * @描   述:温度处理
 * @说   明:1. 复位 2.发送ROM命令 3.发送暂存器指令 读RAM 4.数据
 * @参   数:无
 * @返回值:无
 *********************************/
void DS18B20_Handle(uchar *buffer)
{
	uchar xdata value_High,value_Low;
	float num;//保存小数
    DS18B20_Reset();//复位
	//DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH,跳过ROM操作
	//DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
    DS18B20_Write_Rom(buffer); //匹配ROM 并写入64ROM
	DS18B20_Write_Com(0x44);//发送指令44H,启动温度转换
	Delay10us();
	DS18B20_Reset();//复位
	 DS18B20_Write_Rom(buffer); //匹配ROM 并写入64ROM
	DS18B20_Write_Com(0xbe);//发送指令BEH,读取9字节RAM数据的前两个数据
	Delay10us();
	value_Low=DS18B20_Read_Data();//先读低字节Byte0
	value_High=DS18B20_Read_Data();//高字节Byte1
	
	value_High<<=4;//整数的高3位
	value_High+=(value_Low&0xf0)>>4;//整数的低4位
	DS18B20_Buffer[0]=value_High;//整数
	num=(value_Low&0x0f)*0.0625;//小数
	DS18B20_Buffer[1]=(uchar)(num*100);//小数
}

其他的都和单个测试是一样的。
测试结果:
多点温度测试
另外附上主函数:

/*********************************
 * @函数名:main
 * @描   述:main函数,程序入口
 * @说   明:
 * @参   数:无
 * @返回值:无 
 *********************************/
void main()
{
	//uchar a[8];//存放读出来的ROM
	Uart1_Init();//串口初始化
	Send_String("多点温度测试:\n");
  while(1)
	{
	    DS18B20_Handle(DS18B20_Rom1);
		printf("温度1:%bd.%bd",DS18B20_Buffer[0],DS18B20_Buffer[1]);//串口打印温度
        putchar_End();//换行
//		DS18B20_Read_64Rom(a);
//		Send_String(a);
    	Delay1000ms();
		DS18B20_Handle(DS18B20_Rom2);
		printf("温度2:%bd.%bd",DS18B20_Buffer[0],DS18B20_Buffer[1]);//串口打印温度
		Delay1000ms();
		 putchar_End();//换行
	}
}


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